23th October 2024

Opening of the conference

  • Dr inż. Piotr Górski - Vice Rector for Student Affairs, Wroclaw University of Science and Technology
  • Prof. Celina Pezowicz - Dean of the Faculty of Mechanical Engineering, Wrocław University of Science and Technology
  • Prof. Zbigniew Gronostajski - Chair of the Scientific Discipline - Mechanical Engineering, Wrocław University of Science and Technology
  • Prof. Tomasz Kurzynowski - Head of the Department of Advanced Manufacturing Technologies, Wrocław University of Science and Technology
  • Prof. Jerzy Sładek - Member of the Scientific Excellence Council, Cracow University of Technology
  • Prof. Stanisław Adamczak - Chair of the Scientific Committee of the MwTW Conference, Kielce University of Technology

Session I

  1. The human element: Enhancing metrology and manufacturing through Humane Technology (plenary pres.)
    Yash Chawla, Politechnika Wrocławska
  2. Analiza danych pomiarowych powierzchni do budowania modeli AI
    Tomasz Kowaluk, Politechnika Warszawska
  3. Oszacowanie niepewności pomiarów wytrzymałości na rozciąganie elementów cienkościennych wykonywanych w technologii druku 3D
    Jerzy Bochnia, Politechnika Świętokrzyska
  4. Metodyka kompleksowej oceny struktury geometrycznej powierzchni technicznych
    Karol Grochalski, Politechnika Poznańska

Session II

  1. Directions of development of modern metrology with particular emphasis on practical aspects (plenary pres.)
    James Porter, Taylor Hobson
  2. Prezentacja zakresu działalności Laboratorium INTERLAB Politechniki Świętokrzyskiej w Świętokrzyskim Kampusie Laboratorium GUM i Politechniki Świętokrzyskiej
    Tomasz Dobrowolski, Politechnika Świętokrzyska
  3. Systemy oceny stanu dynamicznego łożysk tocznych poprzez określenie poziomu drgań generowanych przez łożyska
    Grzegorz Piotrowicz, FŁT Kraśnik
  4. Kalibracja czujników drgań. Innowacyjne podejście dla metrologii mechanicznych czujników drgań łożysk
    Paweł Bernaciak, Politechnika Świętokrzyska
  5. Polska Unia Metrologiczna - integratorem rewolucji polskiej metrologii
    Jerzy Józwik, Polska Unia Metrologiczna

Conference discussion meeting: Pantha rhei: Optical Methods and Artificial Intelligence? Restaurant Wratislavia.

24 October 2024

Parallel session IIIA

  1. Comparative Analysis of Measurement Techniques for Evaluating the Complete Fracture Surface of Extruded Short Carbon Fiber Reinforced PEEK
    Aleksandra Mirowska, Politechnika Gdańska
  2. Method for width evaluation of irregular grooves
    Michał Ćwikła, Politechnika Wrocławska
  3. Zwiększenie możliwości analitycznych niestandardowego trybometru typu PIN-ON-DiSC na potrzeby zaawansowanych badań trybologicznych
    Kamil Gatnar, Politechnika Opolska
  4. Ocena właściwości materiałów pokrytych cienkimi powłokami niskotarciowymi
    Krystyna Radoń-Kobus, Politechnika Świętokrzyska
  5. Ocena właściwości przeciwzużyciowych powłok stosowanych na formy wtryskowe
    Szymon Drabik, Politechnika Świętokrzyska
  6. Analiza tekstury powierzchni modeli wytwarzanych za pomocą druku 3D: technologia SLM
    Tomasz Kozior, Politechnika Świętokrzyska

Parallel session IIIB

  1. Surface Roughness Measurement of Composite Materials Cut with High-Pressure Water-Abrasive Jet
    Michał Leleń, Politechnika Lubelska
  2. Istotne cechy metod analizy zaokrągleń: podejście ogólne, aktualny stan wiedzy, przegląd literatury
    Kamil Kubiak, Politechnika Świętokrzyska
  3. Identyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test
    Daria Sałamacha, Politechnika Lubelska
  4. Focal point determination in laser micromachining via ablation acoustic response
    Maurycy Kempa, Politechnika Wrocławska
  5. Określenie odchyłek geometrycznych elementów wielkogabarytowych przy ograniczonych możliwościach pomiaru
    Mateusz Stępień, Chemar Rurociągi
  6. Wykorzystanie systemów wizyjnych w produkcji bombek choinkowych
    Paweł Maślak, Politechnika Wrocławska

Parallel session IVA

  1. Hybrid method in the evaluation of roundness of additively manufactured parts
    Damian Gogolewski, Politechnika Świętokrzyska
  2. Wpływ zmiany uwarunkowań normalizacyjnych na ocenę parametryczna profilu chropowatości powierzchni
    Jacek Świderski, Politechnika Świętokrzyska
  3. Sterowanie urządzeniem do elektrokonsolidacji ceramiki zasilanym prądem przemiennym z wykorzystaniem techniki pomiarowej
    Waldemar Samociuk, Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie
  4. Parametryzacja procesów szlifowania na podstawie scanów 2D/3D przeciągaczy płaskich o różnym stopniu zużycia
    Arkadiusz Kowalski, Politechnika Wrocławska
  5. Selection of a reference roundness profile from the tested profiles of rolling elements of bearings
    Urszula Kmiecik-Sołtysiak, Politechnika Świętokrzyska
  6. Pomiary wielkości geometrycznych modeli odlewniczych wykonywanych wybranymi technologiami przyrostowymi
    Paweł Zmarzły, Politechnika Świętokrzyska

Parallel session IVB

  1. Głębokie uczenie transferowe do monitorowania procesów PBF-LB
    Piotr Sawicki, Politechnika Wrocławska
  2. Integration of measurement systems using a digital twin
    Dariusz Tomkiewicz, Politechnika Koszalińska
  3. Metody estymacji ostrości dla zadania obrazowania metodą SFF
    Bartosz Lenty, Akademia Górniczo-Hutnicza
  4. Robustness analysis of machine learning models for the task of vision-based inspection and measurement of cutting tools
    Kacper Marciniak, Politechnika Wrocławska
  5. Ocena wpływu ustaleń oświetlenia na dokładność pomiarów parametrów chropowatości wykonywanych za pomocą systemu opartego na zmiennej ogniskowej
    Paweł Wołkanowski, Politechnika Krakowska
  6. Wykorzystanie skanerów 3D, szybkiej kamery, fotogrametrii przy testach FOPS kabin operatorów maszyn górniczych
    Paweł Maślak, Politechnika Wrocławska

Session V

  1. Optical process monitoring for joining processes (plenary pres.)
    Andreas Wetzig, Fraunhofer IWS
  2. Wykorzystanie mikroskopu różnicowania ogniskowego Alcona InfinteS Focus G6 w mikroskopii przemysłowej
    Dariusz Brzozowski, ITA Sp. z o. o.
  3. Digitalizacja i pomiary stanu narzędzi skrawających podczas ich regeneracji
    Piotr Bogacz, TCM Polska
  4. Wizyjna analiza powierzchni drewna metodą obrazowania
    Andrzej Sioma, Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
  5. Pomiar wysokości napoiny za pomocą systemu optycznego zintegrowanego z głowicą laserową do napawania
    Adrian Zakrzewski, Politechnika Wrocławska
  6. AI Reconstruction: lifting the limits with Deep Learning (plenary pres.)
    Davy Willems, NIKON

Conference discussion meeting: Optical Phenomena and Intelligence in Biosystems. ZOO Wrocław.

25 October 2024

Session VI

  1. Process control for laser in-situ joining of thermoplastic CFRP (plenary pres.)
    Jan Hauptmann, Fraunhofer IWS
  2. Symulacje numeryczne przestrzennych pomiarów tomograficznych
    Grzegorz Ziółkowski, Politechnika Wrocławska
  3. Analiza wykrywania powłok przy użyciu tomografii komputerowej
    Paweł Wołkanowski, Politechnika Krakowska
  4. Zastosowanie skanowania 3D do rekonstrukcji zużycia
    Jacek Ziemba, Politechnika Wrocławska
  5. Techniki pomiarowe dla zapewnienia poprawności procesu napawania laserowego
    Piotr Koruba, Politechnika Wrocławska

Session VII

  1. Kompleksowa analiza geometryczna śmigła. Porównanie metod pomiarowych maszyną współrzędnościową i tomografią komputerową
    Kevin Moj, Politechnika Opolska
  2. Validation of LIDAR testing software: verifying LIDAR operational software performance
    Grzegorz Iskierka, Politechnika Wrocławska
  3. Łączenie różnych skal w metrologii geometrycznej na przykładzie laboratorium wieloskalowej, współrzędnościowej techniki pomiarowej
    Dawid Kucharski, Politechnika Poznańska
  4. Wykorzystanie technik optycznych w systemach pomiarowych Mitutoyo
    Tomasz Szymański, Mitutoyo
  5. Digital Twin and AI in Metrology 4.0 (plenary pres.)
    Jacek Reiner, Politechnika Wrocławska

Closing of the conference

  • Prof. Jacek Reiner - Chair of the Scientific Committee of the MwTW Conference, Wrocław University of Science and Technology
  • Prof. Stanisław Adamczak - Chair of the Scientific Committee of the MwTW Conference, Kielce University of Technology