23 Października 2024
Otwarcie konferencji
- Dr inż. Piotr Górski - Prorektor ds Studenckich, Politechnika Wrocławska
- Prof. Celina Pezowicz - Dziekan Wydziału Mechanicznego, Politechnika Wrocławska
- Prof. Zbigniew Gronostajski - Przewodniczący Dyscypliny Naukowej - Inżynieria Mechaniczna, Politechnika Wrocławska
- Prof. Tomasz Kurzynowski - Kierownik Katedry Zaawansowanych Technik Wytwarzania, Politechnika Wrocławska
- Prof. Jerzy Sładek - Członek Rady Doskonałości Naukowej, Politechnika Krakowska
- Prof. Stanisław Adamczak - Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji MwTW, Politechnika Świętokrzyska
Sesja I
- The human element: Enhancing metrology and manufacturing through Humane Technology (ref. plenarny)
Yash Chawla, Politechnika Wrocławska
- Analiza danych pomiarowych powierzchni do budowania modeli AI
Tomasz Kowaluk, Politechnika Warszawska
- Oszacowanie niepewności pomiarów wytrzymałości na rozciąganie elementów cienkościennych wykonywanych w technologii druku 3D
Jerzy Bochnia, Politechnika Świętokrzyska
- Metodyka kompleksowej oceny struktury geometrycznej powierzchni technicznych
Karol Grochalski, Politechnika Poznańska
Sesja II
- Directions of development of modern metrology with particular emphasis on practical aspects (ref. plenarny)
James Porter, Taylor Hobson
- Prezentacja zakresu działalności Laboratorium INTERLAB Politechniki Świętokrzyskiej w Świętokrzyskim Kampusie Laboratorium GUM i Politechniki Świętokrzyskiej
Tomasz Dobrowolski, Politechnika Świętokrzyska
- Systemy oceny stanu dynamicznego łożysk tocznych poprzez określenie poziomu drgań generowanych przez łożyska
Grzegorz Piotrowicz, FŁT Kraśnik
- Kalibracja czujników drgań. Innowacyjne podejście dla metrologii mechanicznych czujników drgań łożysk
Paweł Bernaciak, Politechnika Świętokrzyska
- Polska Unia Metrologiczna - integratorem rewolucji polskiej metrologii
Jerzy Józwik, Polska Unia Metrologiczna
Konferencejne spotkanie dyskusyjne: Pantha rhei: Metody Optyczne i Sztuczna Inteligencja? Restauracja Wratislavia.
24 Października 2024
Sesja równoległa IIIA
- Comparative Analysis of Measurement Techniques for Evaluating the Complete Fracture Surface of Extruded Short Carbon Fiber Reinforced PEEK
Aleksandra Mirowska, Politechnika Gdańska
- Method for width evaluation of irregular grooves
Michał Ćwikła, Politechnika Wrocławska
- Zwiększenie możliwości analitycznych niestandardowego trybometru typu PIN-ON-DiSC na potrzeby zaawansowanych badań trybologicznych
Kamil Gatnar, Politechnika Opolska
- Ocena właściwości materiałów pokrytych cienkimi powłokami niskotarciowymi
Krystyna Radoń-Kobus, Politechnika Świętokrzyska
- Ocena właściwości przeciwzużyciowych powłok stosowanych na formy wtryskowe
Szymon Drabik, Politechnika Świętokrzyska
- Analiza tekstury powierzchni modeli wytwarzanych za pomocą druku 3D: technologia SLM
Tomasz Kozior, Politechnika Świętokrzyska
Sesja równoległa IIIB
- Surface Roughness Measurement of Composite Materials Cut with High-Pressure Water-Abrasive Jet
Michał Leleń, Politechnika Lubelska
- Istotne cechy metod analizy zaokrągleń: podejście ogólne, aktualny stan wiedzy, przegląd literatury
Kamil Kubiak, Politechnika Świętokrzyska
- Identyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test
Daria Sałamacha, Politechnika Lubelska
- Focal point determination in laser micromachining via ablation acoustic response
Maurycy Kempa, Politechnika Wrocławska
- Określenie odchyłek geometrycznych elementów wielkogabarytowych przy ograniczonych możliwościach pomiaru
Mateusz Stępień, Chemar Rurociągi
- Wykorzystanie systemów wizyjnych w produkcji bombek choinkowych
Paweł Maślak, Politechnika Wrocławska
Sesja równoległa IVA
- Hybrid method in the evaluation of roundness of additively manufactured parts
Damian Gogolewski, Politechnika Świętokrzyska
- Wpływ zmiany uwarunkowań normalizacyjnych na ocenę parametryczna profilu chropowatości powierzchni
Jacek Świderski, Politechnika Świętokrzyska
- Sterowanie urządzeniem do elektrokonsolidacji ceramiki zasilanym prądem przemiennym z wykorzystaniem techniki pomiarowej
Waldemar Samociuk, Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie
- Parametryzacja procesów szlifowania na podstawie scanów 2D/3D przeciągaczy płaskich o różnym stopniu zużycia
Arkadiusz Kowalski, Politechnika Wrocławska
- Selection of a reference roundness profile from the tested profiles of rolling elements of bearings
Urszula Kmiecik-Sołtysiak, Politechnika Świętokrzyska
- Pomiary wielkości geometrycznych modeli odlewniczych wykonywanych wybranymi technologiami przyrostowymi
Paweł Zmarzły, Politechnika Świętokrzyska
Sesja równoległa IVB
- Głębokie uczenie transferowe do monitorowania procesów PBF-LB
Piotr Sawicki, Politechnika Wrocławska
- Integration of measurement systems using a digital twin
Dariusz Tomkiewicz, Politechnika Koszalińska
- Metody estymacji ostrości dla zadania obrazowania metodą SFF
Bartosz Lenty, Akademia Górniczo-Hutnicza
- Robustness analysis of machine learning models for the task of vision-based inspection and measurement of cutting tools
Kacper Marciniak, Politechnika Wrocławska
- Ocena wpływu ustaleń oświetlenia na dokładność pomiarów parametrów chropowatości wykonywanych za pomocą systemu opartego na zmiennej ogniskowej
Paweł Wołkanowski, Politechnika Krakowska
- Wykorzystanie skanerów 3D, szybkiej kamery, fotogrametrii przy testach FOPS kabin operatorów maszyn górniczych
Paweł Maślak, Politechnika Wrocławska
Sesja V
- Optical process monitoring for joining processes (ref. plenarny)
Andreas Wetzig, Fraunhofer IWS
- Wykorzystanie mikroskopu różnicowania ogniskowego Alcona InfinteS Focus G6 w mikroskopii przemysłowej
Dariusz Brzozowski, ITA Sp. z o. o.
- Digitalizacja i pomiary stanu narzędzi skrawających podczas ich regeneracji
Piotr Bogacz, TCM Polska
- Wizyjna analiza powierzchni drewna metodą obrazowania
Andrzej Sioma, Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
- Pomiar wysokości napoiny za pomocą systemu optycznego zintegrowanego z głowicą laserową do napawania
Adrian Zakrzewski, Politechnika Wrocławska
- AI Reconstruction: lifting the limits with Deep Learning (ref. plenarny)
Davy Willems, NIKON
Konferencejne spotkanie dyskusyjne: Fenomeny Optyczne i Inteligencja w Biosystemach. ZOO Wrocław.
25 Października 2024
Sesja VI
- Process control for laser in-situ joining of thermoplastic CFRP (ref. plenarny)
Jan Hauptmann, Fraunhofer IWS
- Symulacje numeryczne przestrzennych pomiarów tomograficznych
Grzegorz Ziółkowski, Politechnika Wrocławska
- Analiza wykrywania powłok przy użyciu tomografii komputerowej
Paweł Wołkanowski, Politechnika Krakowska
- Zastosowanie skanowania 3D do rekonstrukcji zużycia
Jacek Ziemba, Politechnika Wrocławska
- Techniki pomiarowe dla zapewnienia poprawności procesu napawania laserowego
Piotr Koruba, Politechnika Wrocławska
Sesja VII
- Kompleksowa analiza geometryczna śmigła. Porównanie metod pomiarowych maszyną współrzędnościową i tomografią komputerową
Kevin Moj, Politechnika Opolska
- Validation of LIDAR testing software: verifying LIDAR operational software performance
Grzegorz Iskierka, Politechnika Wrocławska
- Łączenie różnych skal w metrologii geometrycznej na przykładzie laboratorium wieloskalowej, współrzędnościowej techniki pomiarowej
Dawid Kucharski, Politechnika Poznańska
- Wykorzystanie technik optycznych w systemach pomiarowych Mitutoyo
Tomasz Szymański, Mitutoyo
- Digital Twin and AI in Metrology 4.0 (ref. plenarny)
Jacek Reiner, Politechnika Wrocławska
Zamknięcie konferencji
- Prof. Jacek Reiner - Przewodniczący Komitetu Organizacyjnego MwTW2024, Politechnika Wrocławska
- Prof. Stanisław Adamczak - Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji MwTW, Politechnika Świętokrzyska
